覆層測(cè)厚儀和無(wú)損檢測(cè)儀的原理

無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一個(gè)**的理論,和高度重視的實(shí)踐非常有前途的學(xué)科。它涉及材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造過(guò)程中,斷裂力學(xué)和有限元計(jì)算,和許多其他方面。
在化工、電子、電力、金屬等,為了實(shí)現(xiàn)各種材料的保護(hù)或裝飾效果,通常覆蓋著噴,有色金屬和磷化、陽(yáng)極氧化處理方法,通過(guò)這種方式,有涂料、涂料、涂料、貼一層或化學(xué)等概念生成膜,我們稱(chēng)之為“覆蓋”。
涂層厚度測(cè)量已成為金屬加工行業(yè)用戶(hù)必要的成品質(zhì)量檢驗(yàn)*重要的工序?；臼侄问钱a(chǎn)品符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
目前,國(guó)內(nèi)外已廣泛按照統(tǒng)一的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)涂層厚度的確定,包層,無(wú)損檢測(cè)方法和儀器的選擇以及循序漸進(jìn)的研究材料物理性能更重要。
包層無(wú)損檢測(cè)方法,主要包括:楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)瑩光法、β射線(xiàn)反射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等
除了五種大多數(shù)這些方法后會(huì)損害產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,損傷檢測(cè),測(cè)量和繁瑣,緩慢,更適合抽樣檢驗(yàn)。x射線(xiàn)無(wú)損測(cè)量和β射線(xiàn)反射法不能接觸,但復(fù)雜的,昂貴的,小的測(cè)量范圍。由于放射性源,因此,用戶(hù)必須遵守輻射防護(hù)規(guī)范,在每一層更常用的金屬鍍層厚度測(cè)量。電容方法通常只在非常薄的厚度的絕緣導(dǎo)電涂層應(yīng)用程序的測(cè)試。
磁測(cè)量方法和渦流測(cè)量方法,隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來(lái)在微處理器技術(shù)的引入,測(cè)厚儀微,聰明、多功能、高精度、可行的方式向前邁進(jìn)的重要一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1μm,精度可以達(dá)到1%,適用范圍寬,范圍廣泛,操作簡(jiǎn)單,價(jià)格低廉。是應(yīng)用*廣泛的工業(yè)和科研儀器。